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| 基于U2270B的射频识别系统天线设计 | |||||
作者:佚名 文章来源:转载 点击数: 更新时间:2006-9-26 ![]() |
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近年来,自动识别方法在服务领域、货物销售、后勤分配、商业、生产企业和材料流通等领域得到了快速的发展,而其中的射频识别技术更是发展迅速,已逐步成为一个独立的跨学科的专业领域,主要包括高频技术、半导体技术、电磁兼容技术、数据安全保密技术、电信和制造技术等。天线作为射频识别系统设计的关键器件直接影响着系统的性能。 1射频识别系统的原理
在RFID系统中有两个LC电路:由基站线圈和连接电容组成的LRCR电路以及由应答器线圈和连接电容组成的LTCT电路。在单线圈系统中,要求两个LC电路调谐在相同的谐振频率上。如果基站和应答器的谐振频率不匹配,零调制就会产生,从而降低系统的性能。在系统设计成型后,天线的电感是固定的,因此要改变LC电路的谐振频率,只有调节回路中的电容量。 一般设计采用阅读器工作在单一频率的模式,对U2270B而言,可以取,fo=125 kHz。Q因子(QR)与天线的带宽B和谐振频率fo的关系为B=fo/QR。高QR值会得到较高的阅读器天线电压,从而可增加传输到应答器的能量。高QR值的缺点是减小了天线带宽,进而当应答器频率发生偏移时减小了应答器所感应的数据信号电压,从而导致射频卡的解调困难[4]而无法正常工作。耦合因子为阅读器基站的电磁场产生线圈和应答器线圈之间的耦合,耦合因子取决于系统的结构参数,直接影响阅读器与应答器的阅读距离。优化耦合因子将对能量传输通道和信号传输通道有利。为确定耦合因子,可利用Temic公司提供的试验应答线圈(TTC)及电路进行测试。QR的取值范围要控制在5~15,一般取QR=12,可以适合于大多数应用情况的要求。如果天线的电感确定,那么QR因子可以通过式(2)由RR进行调整:
根据式(3),磁场强度和天线结构有直接关系,而磁场耦合因子k也取决于线圈排列的结构尺寸,所以磁场强度和k也是成比例的。优化耦合因子就是要确定天线效率最高时天线半径和阅读距离的关系。图2是在一定条件下,磁场强度随线圈半径变化的情况。图2的测定条件是:fo=125 kHz,LR=737 μH,r=5~55 mm,d=20 mm。
Cpara是线圈的内部寄生电容,Ccable和Cprobe是测量设备的电缆电容和负载电容。这些电容对测量电压都会产生影响。为了使测量效果更加准确,这里引入了修正因子Ak,计算公式如下:
2.3如何满足实际的频率容许偏差
天线线圈的匝数可以通过式(7)来计算:
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